高加速溫濕度試驗(yàn)機(jī)，高壓加速老化試驗(yàn)箱主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、IC芯片、固態(tài)存儲(chǔ)器、DRAM、閃存卡及模塊、元器件、零部件、金屬材料、塑料晶體管外形封裝等產(chǎn)品測(cè)試。

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更新時(shí)間：2025-09-17
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高加速溫濕度試驗(yàn)機(jī)，高壓加速老化試驗(yàn)箱用途：

高加速老化試驗(yàn)箱是為評(píng)估非氣密性固態(tài)器件在潮濕及電偏壓的環(huán)境中的可靠性。這是一種高度加速試驗(yàn)，在非冷凝條件下

利用溫度和濕度加速水汽通過外部保護(hù)材料（封裝材料或密封件）或沿著外部保護(hù)材料和金屬導(dǎo)體之間的界面滲透。該試驗(yàn)依據(jù)JEDEC 22標(biāo)準(zhǔn)，此測(cè)試用于識(shí)別封裝內(nèi)部的故障機(jī)制，具有破壞性。

HAST

高加速老化試驗(yàn)箱主要用于對(duì)電工、電子產(chǎn)品、半導(dǎo)體、IC芯片、固態(tài)存儲(chǔ)器、DRAM、閃存卡及模塊、元器件、零部件、金屬材料、塑料晶體管外形封裝等產(chǎn)品測(cè)試。
高加速溫濕度試驗(yàn)機(jī)，高壓加速老化試驗(yàn)箱技術(shù)性能：

溫度范圍: 105℃～147℃( 蒸氣溫度 )

濕度范圍: 75~100 % （蒸氣濕度）

濕度控制穩(wěn)定度：±3%RH

使用壓力: 1.2~2.89kg(含1atm)

時(shí)間范圍: 0Hr～999 Hr

加壓時(shí)間: 0.00 Kg ～1.04 Kg/cm2約45 分
溫度波動(dòng)均勻度: ±2℃

溫度顯示精度：0.1℃

壓力波動(dòng)均勻度 : ±0.1Kg

濕度分布均度：±3%RH

內(nèi)尺寸:Φ380mmxL500mm，大于50L

內(nèi)桶材質(zhì): SUS# 316不銹鋼板材質(zhì)

外箱材質(zhì): 冷軋板噴塑

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